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產品展示

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美國DAKOTA水下測厚儀UMX/MX3
美國DAKOTA水下測厚儀UMX/MX3 DAKOTA ULTRASONICS公司水下測厚儀包括UMX水下裝置和MX3超聲波測厚儀。將MX3安裝在UMX中，可用于檢查水下環境中的腐蝕情況，包括：船舶、管道、存儲罐、船塢、橋樁等。 UMX特點有機玻璃構造可在水下91米使用不銹鋼連接器和扣鎖 ?安裝操作簡單

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美國泛美26MG-XT超聲波測厚儀
美國泛美26系列超聲波測厚儀包括26MG超聲波測厚儀,泛美26MG-XT超聲波測厚儀和泛美26XTDL超聲波測厚儀,操作簡單,是測量腐蝕金屬理想的便攜式測厚儀。超聲波測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選。可對厚度在0.5mm--500mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進行測量。

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北京時代TT120超聲波測厚儀
在TT110的基礎上增加了高溫測量功能，被測物體溫度Z高可達3000C 自動校對零點，可對系統誤差進行修正非線性自動補償，利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正，以提高測量準確度

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美國泛美MG2-XT超聲波測厚儀
美國泛美MG2系列超聲波測厚儀包括MG2,MG2-XT和MG2-DL,小巧、堅固耐用，操作簡單，是測量有內部腐蝕的部件Z為理想的便攜式測厚儀。測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選?？蓪穸仍?.5mm--635mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進行測量。

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美國泛美MG2超聲波測厚儀
美國泛美MG2系列超聲波測厚儀包括MG2,MG2-XT和MG2-DL,小巧、堅固耐用，操作簡單，是測量有內部腐蝕的部件Z為理想的便攜式測厚儀。測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選。可對厚度在0.5mm--635mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進行測量。

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美國DAKOTA MX5超聲波測厚儀
美國DAKOTA MX-3超聲波測厚儀手持式超聲波測厚儀是一種可信賴的精密測量工具，無需特別培訓即可操作。將探頭放到被測材料的上面，就可讀出被測材料的厚度，或是沿被測材料的表面拖動探頭，MX-3可以自動找出被測材料的Z薄點。

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汕超CTS-39超聲測厚儀
汕超CTS-39超聲波測厚儀的特點 ? ?　　儀器具有靈敏度高、檢出能力強、自動校準、多種測量模式可選等優異的測量性能；還具有中/英文菜單、數據存儲、計算機通訊、結構小巧等特點，適用于機械、化工、造船、航空航天等工業部門各種場合的超聲測厚。

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美國泛美MG2-DL超聲波測厚儀
美國泛美MG2-DL超聲波測厚儀則在MG2-XT的基礎上增加了數據存儲 ?? MG2系列超聲波測厚儀包括MG2,MG2-XT和MG2-DL,小巧、堅固耐用，操作簡單，是測量有內部腐蝕的部件Z為理想的便攜式測厚儀。測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選。

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UTM-101H型智能超聲波測厚儀
主要技術指標: 1.測量范圍:1.2-220mm(鋼)(常規探頭) 2.測量誤差:±(0.5%+0.1)mm 3.聲速可調范圍:500-9999m/s連續可調 4.電源:1節5#電池 5.外形尺寸:128×62×26（mm) 6.使用環境:溫度-10℃～＋50℃(常規探頭)

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北京時代TT110超聲波測厚儀
時代超聲波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術于一體的、*的無損檢測儀器，采用微電腦對數據時行分析、處理、顯示，采用高度優化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩定可靠等特點?？蓪Ω鞣N板材和加工零件作精確測量，廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

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北京時代TT100A超聲波測厚儀
原理：超聲波測量厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。時代超聲波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術于一體的、*的無損檢測儀器，采用微電腦對數據時行分析、處理、顯示，采用高度優化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩定可靠等特點。

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美國泛美26MG超聲波測厚儀
美國泛美26系列超聲波測厚儀包括26MG超聲波測厚儀,泛美26MG-XT超聲波測厚儀和泛美26XTDL超聲波測厚儀,操作簡單,是測量腐蝕金屬理想的便攜式測厚儀。超聲波測厚儀使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。有多種探頭可選?？蓪穸仍?.5mm--500mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進行測量。

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